Dell Intel PRO Family of Adapters - Manuel (Page 150)

Afficher la configuration de la carte
Sélectionnez View Adapter Configuration (la configuration de la carte) pour afficher l’écran de configuration de la
carte. Cet écran décrit différentes propriétés de la carte.
Vous pouvez afficher des informations supplémentaires sur l’emplacement PCI occupé par la carte en appuyant sur
<F5>. Ces informations sont principalement utilisées à des fins de dépannage par l’
Assistance technique .
Appuyez sur n’importe quelle touche pour retourner à la configuration de la carte.
Menu Tester la carte
Sélectionnez Test Adapter (Tester la carte) dans le menu principal pour afficher l’écran du menu Test. Ce menu vous
permet de sélectionner les tests à effectuer sur la carte et de configurer les options des tests.
Lancer les tests de cartes
La sélection de cette option affiche l’écran de test. Pendant l’exécution des tests, une toupie en rotation s’affiche pour
indiquer que l’application est toujours "active". Les résultats sont affichés après chaque test. Si vous avez choisi d’exé-
cuter les tests en plusieurs passes, les résultats indiquent le compte des échecs. Une liste contenant des zéros indique
que tous les tests ont été réussis. Les tests particuliers indiquent "Passed" (Réussi) ou "Failed" (Échec) pour chaque
passe.
Changer les options de test
L’écran de configuration de test vous permet de configurer et de sélectionner les tests voulus. Chaque option peut être
basculée en déplaçant le curseur à l’aide des touches de direction et en appuyant sur <Entrée>. Le nombre de tests
est défini en entrant simplement le nombre dans le champ approprié à l’aide du clavier. S’il y a un blanc dans le menu,
cela signifie que le test n’est pas pris en charge par votre carte. Par défaut, les diagnostics locaux sont exécutés auto-
matiquement alors que les diagnostics réseau sont eux désactivés.
REMARQUE : le programme test teste les attributs qui s’appliquent à votre carte. Seuls les tests pris en charge
sont affichés.
Registres de périphérique - Des modèles de test sont écrits, lus et vérifiés dans les registres de périphérique de la
carte afin d’assurer une bonne fonctionnalité.
FIFO - Écrit des modèles de vérification des bits dans les mémoires tampons FIFO de la carte, afin de s’assurer qu’ils
fonctionnent correctement. Les tests FIFO ne sont pas pris en charge sur toutes les cartes et peuvent ne pas apparaître
dans la liste des tests.
EEPROM - Ce test vérifie la lisibilité de l’EEPROM ainsi que l’intégrité des données qui y sont stockées. Il lit l’EEPROM
et calcule le total de contrôle. Ce total de contrôle est ensuite comparé à celui stocké dans l’EEPROM. Si les valeurs
sont différentes, le test signale un échec.
Interruption - Le test d’interruption vérifie la capacité de la carte à générer une interruption et à la propager par le sys-
tème au PIC (Programmable Interrupt Controller). Le test déclenche une interruption en activant le registre de causes
d’interruptions, puis vérifie qu’une interruption a été déclenchée.
Bouclage - Deux tests de bouclage internes sont disponibles. Ces tests paramètrent la carte dans le mode de bou-
clage approprié et renvoient des paquets via le circuit et la logique de réception de la carte. Ces tests sont dépendants
du jeu de chipsets et peuvent ne pas être sélectionnables.
Liaison - Le test de liaison vérifie si la carte dispose ou non d’une liaison.
Test de réseau - Le test de réseau recherche un récepteur, puis envoie des paquets. Si aucun récepteur n’est trouvé,
le test signale un échec. Si les paquets sont reçus du récepteur, le test signale une réussite.
REMARQUE : dans certains cas, le test peut échouer lorsque celui-ci est connecté à un commutateur sur lequel
le protocole Spanning Tree est activé.