Dell Broadcom NetXtreme Family of Adapters Manuel d'utilisation
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Diagnostic utilisateur : Broadcom Guide de l'utilisateur de Broadcom NetXtreme BCM57XX
file:///C|/Users/Nalina_N_S/Documents/NetXtreme/French/dosdiag.htm[9/5/2014 3:33:57 PM]
A4
Autotest
intégré
Test automatique intégré matériel (BIST).
A5
Registre
PCI Cfg
Ce test vérifie l'intégrité de l'accès aux registres de configuration PCI.
Groupe B : tests de mémoire
B1
Zone de
travail
Ce test contrôle la SRAM de travail sur la carte. Les tests suivants sont exécutés :
Test des adresses. Le test écrit des données incrémentielles uniques dans chaque adresse, puis les
relit pour s'assurer de leur intégrité. Lorsque l'adresse complète est remplie de données uniques, le
programme les relit pour s'assurer de leur intégrité.
Bit baladeur. pour chaque adresse, le premier groupe de données est écrit et relu dans le cadre du
test. Le programme décale ensuite les données vers la gauche d'un bit, afin de les doubler et exécute
à nouveau le test. Le test est répété 32 fois jusqu'à ce que le bit de test soit décalé hors de l'adresse
de test. Le même test est réexécuté pour l'ensemble de la plage gérée.
Données pseudo-aléatoires. un jeu de données pseudo-aléatoire pré-calculé est utilisé pour écrire
des données uniques dans chaque RAM de test. Au terme du test, le programme relit les données une
dernière fois pour s'assurer que leur intégrité n'a pas été affectée.
Test de lecture/d'écriture des données : ce test écrit les données de test dans la SRAM, puis les
relit pour s'assurer de leur intégrité. Le test utilise les données 0x00000000, 0xFFFFFFFF,
0xAA55AA55 et 0x55AA55AA.
Second test de combinaison de données. Ce test écrit des données de test dans la SRAM, écrit
des données de test complémentaires à l'adresse suivante, puis les relit pour s'assurer de leur
intégrité. Au terme du test, le programme relit les données une dernière fois pour s'assurer que leur
intégrité n'a pas été affectée. Le test utilise les données 0x00000000, 0xFFFFFFFF, 0xAA55AA55 et
0x55AA55AA.
B2
SRAM BD
ce test permet de contrôler la SRAM BD. La procédure d'exécution est identique à celle du test de
zone de travail décrit à la section B1.
B3
SRAM DMA ce test contrôle la SRAM DMA en exécutant le test de zone de travail décrit à la section B1.
B4
SRAM
MBUF
Ce test contrôle la DMA MBUF en exécutant le test de zone de travail décrit à la section B1.
B5
SRAM
MBUF via
DMA
Ce test utilise huit combinaisons de données. Il se base sur un tampon d'une capacité de 0x1000.
Avant chaque test de combinaison, le tampon est initialisé et rempli d'une combinaison de données. Il
effectue ensuite la transmission du tampon DMA d'une capacité de 0x1000 du tampon hôte à la
mémoire MBUF de la carte.
Le test vérifie l'intégrité des données de la mémoire MBUF de la carte en les comparant à la mémoire
hôte et la DMA est reproduite pour l'ensemble du tampon MBUF. Il effectue ensuite la réception de la
DMA, de la carte à l'hôte. Le tampon de test de 0x1000 octets est remis à zéro avant chaque
réception de DMA. Après vérification de l'intégrité des données, le test est répété pour l'ensemble de
la plage SRAM MBUF. Les 8 combinaisons de données sont décrites ci-dessous.
Test Description des combinaisons
16 00s and 16 FF's Fills the entire host DMA buffer with 16 bytes of 00s and then 16
bytes of FF's.
16 FF's and 16 00s Fills the entire host DMA buffer with 16 bytes of FF's and then
16 bytes of 00s.
32 00s and 32 FF's Fills the entire host DMA buffer with 32 bytes of 00s and then 32
bytes of FF's.
32 FF's and 32 00s Fills the entire host DMA buffer with 32 bytes of FF's and then
32 bytes of 00s.
00000000 Fills the entire host DMA buffer with all 00s.
FFFFFFFF Fills the entire host DMA buffer with all FF's.
AA55AA55 Fills the entire host DMA buffer with data 0xAA55AA55.
55AA55AA Fills the entire host DMA buffer with data 0x55AA55AA.
B7
CPU GPR
Ce test contrôle les registres à usage général de l'unité centrale et effectue les mêmes opérations que
pour le test de zone de travail (B1) avec trois tensions différentes (1,1 V, 1,2 V et 1,3 V).
Groupe C : tests divers
C1
NVRAM
Les données de test incrémentielles sont utilisées dans le test EEPROM (electrically erasable
programmable read-only memory, mémoire morte effaçable et programmable électriquement). Le
test remplit la plage de test de données de test et relit les données pour vérifier leur intégrité. Au
terme du test, il remplit les données de zéros pour vider la mémoire.
C2
CPU
Ce test ouvre le fichier Cpu.bin. Si celui-ci existe et que son contenu est correct, il charge le code
dans les RX et TX de l'UC et vérifie l'exécution de l'unité centrale.
C3
DMA
Les DMA à priorité faible et élevée sont toutes deux testées. Le test déplace les données de la
mémoire hôte à la SRAM de la carte et vérifie l'intégrité des données. Il les transfère à nouveau vers
la mémoire hôte pour s'assurer encore une fois de leur intégrité.
La fonction de contrôle de MII (interface indépendante du support) est identique à celle du test A2.
Test de registre de contrôle. Chaque registre spécifié dans la configuration contient des définitions de
bit de lecture seule et de bits de lecture/écriture. Le test écrit des 0 et des 1 dans les bits de test afin