Metrohm 789 Robotic Sample Processor XL - Manuel (Page 18)

1.5 Branchements
10 Metrohm Sample Processor, Introduction
Fig. 6 Capteur de bécher sur la
tour
Capteur optique de bécher
Chaque tour d’un Metrohm Sample
Processor est équipée d’un capteur
de bécher, qui détecte la présence
d’un bécher devant la tour considé-
rée. Avec ce capteur infrarouge, il
est possible de détecter des bé-
chers fabriqués dans des matériaux
les plus divers, à partir du moment
où ils sont correctement placés de-
vant la tour et que le capteur de bé-
cher 'Tour' a été sélectionné dans la
configuration du rack. Ce "Test de
bécher" est effectué après chaque
instruction MOVE (c’est à dire après
une rotation de rack).
Le capteur de bécher sur la tour ne
peut être utilisé que dans le cas de
rack d’échantillons à rangée unique.
Fig. 7 Capteur sur le bras
pivotant
Capteur de contact du bras pivo-
tant
Les bras pivotants avec un capteur
Piezo peuvent également être utili-
sés avec un rack d'échantillons à
plusieurs rangées. Le capteur réagit
si l'élévateur est déplacé à la posi-
tion de travail et le capteur touche
un récipient d'échantillon.
Protection anti-
projections/
Protection de
sécurité
Capteur de
bécher
Rack d’échantillons
Capteur Piezo