Commutateur hors ligne, Commutateur en ligne, Test de ram – Dell PowerVault 56F (16P Fibre Channel Switch) Manuel d'utilisation

Page 114: Tests des registres de port, Test de la mémoire centrale, Commutateur hors ligne -6, Commutateur en ligne -6, Test de ram -6, Tests des registres de port -6, Test de la mémoire centrale -6

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Guide d'installation et de dépannage

'    

Appuyez sur <Entrée> dans la fenêtre Switch Offline (Commutateur hors ligne)
pour afficher une invite vous demandant si vous voulez que le commutateur soit hors
ligne. Cliquez sur Oui ou sur Non.

Les tests susceptibles de perturber la transmission de données exigent que le com-
mutateur soit mis hors ligne. Si le commutateur n'est pas hors ligne, une invite s'affi-
che avant que le test ne puisse se dérouler.

'    

Appuyez sur <Entrée> dans la fenêtre Ram Test (Test de rame) pour afficher une
invite vous demandant si vous voulez mettre le commutateur en ligne. Cliquez sur
Oui ou sur Non.

Une fois le commutateur en ligne, procédez au test.

"  !

Si vous appuyez sur <Entrée> pendant que la fenêtre RAM Test (Test de RAM) est
affichée, vous obtiendrez soit un message d'erreur, soit un message indiquant que ce
test a réussi,

+  .

Un message d'erreur ressemble à l'exemple suivant :

640"&.&,3T7640"&.&*U7640"&.&C55

"    

Si vous appuyez sur <Entrée> pendant que la fenêtre Tests des registres de port
est sélectionnée, un message vous rappelant de mettre le commutateur hors ligne
s'affiche, si le commutateur ne l'est pas. Si le message s'affiche, prenez le commuta-
teur hors ligne.

Appuyez sur <Entrée> pour démarrer de test, qui sert à vérifier les registres ASIC du
commutateur. Les ports testés sont les ports 0 à 15.

Si le test réussit, la fenêtre affiche

3 +  .

Un message d'erreur ressemble à l'exemple suivant :

640"3.0.337640"3.0.33RC3*+7640"@C*R+4&.,C+

"     

Le test centralMemoryTest vérifie que la mémoire centrale de chaque « loom » de
circuit ASIC fonctionne correctement en contrôlant les points suivants :



Le circuit BISR (Built-In-Self-Repair [auto-réparation intégrée]) de chaque puce ne
signale pas un échec de réparation de cellules défectueuses.



Les cellules de données peuvent être inscrites et lues correctement de façon
unique (test d'écriture/lecture des données).

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