Préparation de l'échantillon, Préparation de l'échantillon 31 – MTS Dispositif d'alignement série 609 Manuel d'utilisation
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À propos des échantillons instrumentés en jauges de contrainte
Informations produit du dispositif d'alignement série 609
Préparation de l'échantillon
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Préparation de l'échantillon
Cette section vous indique comment positionner les jauges de contrainte pour
créer un échantillon instrumenté en jauges. Les formules sont également fournies
à titre de référence au cours de la procédure d'alignement.
Sommaire
À propos des échantillons instrumentés en jauges de contrainte 31
Échantillons de diamètre rond et épais 33
Échantillons de diamètre rond et fin 36
Échantillons épais et plats 39
Échantillons crantés de diamètre rond et épais 44
Échantillons crantés de diamètre rond et fin 47
Échantillons crantés, épais et plats 50
Échantillons crantés fins et plats 53
À propos des échantillons instrumentés en jauges de contrainte
Un échantillon instrumenté en jauges de contrainte est nécessaire pour mesurer
et corriger le défaut d'alignement concentrique et angulaire. Les dimensions et
les matériaux de l'échantillon doivent correspondre autant que possible aux
échantillons réels que vous allez tester.
Section
à jauge