Dell PowerVault 715N (Rackmount NAS Appliance) - Manuel (Page 11)

droite de baladeur 1 pour identifier les court-circuits sur les lignes de données et les bits de données bloqués
sur 1.
Walking 0's Test (Test Baladeur 0) écrit des formes changeantes sur la mémoire afin de détecter des
erreurs de mémoire. Ce test utilise deux procédures de tests pour identifier les lignes de données ouvertes, le
test de gauche de baladeur 0 de gauche et le test de droite de baladeur 0.
Random Memory Test (Test Mémoire aléatoire) - écrit une configuration binaire aléatoire sur un
emplacement de la mémoire système DRAM sélectionné au hasard puis procède à la lecture du même
emplacement en essayant de retrouver la même configuration binaire que celle qui a été écrite.
Address Test (Test Adresses) - vérifie les circuits ouverts et fermés sur les lignes d'adresses.
Refresh Test (Test Rafraîchissement) - vérifie le taux d'intervalle d'actualisation de la mémoire système
DRAM.
Data Bus Test (Test Bus de données) - vérifie que le bus de données fonctionne correctement.
External Cache Memory Test (Test Mémoire cache externe) - identifie et teste la mémoire cache
externe, puis effectue un test de formes aléatoire dans les limites de la taille de la mémoire cache afin de
détecter d'éventuels problèmes de mémoire cache.
Quick Memory Test (Test Mémoire rapide) - vérifie rapidement que toute la mémoire installée est
accessible.
Carte système
DMA Controller Register Tests (Tests Registre des contrôleurs DMA) - une série de tests de lecture et
d'écriture sur les registres d'adresse mémoire et les registres de page des contrôleurs DMA 1 et 2.
Interrupt Controller Test (Test Contrôleur d'interruption) - effectue une série de tests de lecture et d'écriture
sur les registres d'interruption de masque pour détecter d'éventuelles interruptions perdues après avoir démasqué
toutes les interruptions.
Timer Test (Test Registre d'horloge) - vérifie la précision du temporisateur en l'étalonnant par rapport à
l'interruption périodique de la RTC (Real-Time Clock [horloge temps réel]).
Real Time Clock Test (Test Horloge temps réel) - vérifie la régularité de l'interruption de l'horloge en temps
réel en l'étalonnant par rapport à l'interruption 0 du registre d'horloge.
CMOS Memory Validity Test (Test Validité de la mémoire CMOS) - vérifie la validité des données de la RAM
du CMOS et s'assure que les sommes de contrôle de cette dernière sont correctes. Le test garantit aussi que la pile
est en bon état.
SMBus Test (Test SMBus) - vérifie que le SMB (System Management Bus [bus de gestion du système])
fonctionne correctement. Ce test comprend le test général SMB et le test d'accès SMB.
Hardware Monitoring Tests (Tests Vérification du matériel) - lit les valeurs des éléments suivants et vérifie
qu'ils sont dans les limites spécifiées. Ce test surveille les mesures suivantes :
Tensions du système (2,0 V, 2,5 V ou 1,5 V, 5 V et 12 V)
Vitesse du ventilateur du système
Température de l'UC
Lecteur de disque dur IDE
Write Test (Test Écriture) - vérifie que le lecteur de disque dur IDE sélectionné écrit les données correctement. Il
écrit un motif de données sur le lecteur IDE, puis lit les données qu'il a écrites. C'est un test destructif. Ce test
détruit toutes les données qui se trouvent sur le lecteur de disque dur IDE testé. Au départ, le test destructif est
caché. Sélectionnez Toggle Hidden Test Display (Faire basculer l'affichage du test caché) pour afficher le
test (Test Écriture) sur le menu. Sélectionnez encore Faire basculer l'affichage du test caché pour cacher le
test.
AVIS : Le test Écriture du lecteur de disque dur IDE est un test destructif et caché. Quand vous exécutez ce test, il
détruit toutes les données qui se trouvent sur les lecteurs testés.