EXFO OTDR 2 - Manuel (Page 41)

Préparation de votre OTDR pour un test
OTDR 35
Modification des seuils de réussite/d'échec
Modification des seuils de réussite/d'échec
Vous pouvez activer et définir des paramètres de seuil de réussite/d'échec
pour vos tests.
Les valeurs des seuils sont enregistrées avec le fichier de mesures. Il est
possible d'afficher ces valeurs de seuil même si vous ouvrez le fichier sur
un autre appareil.
Vous pouvez définir des seuils pour la perte d'épissure, la perte du
connecteur, la réflectance, l'atténuation de section de fibre, la perte de
section, la longueur de section et l'ORL de la section. Vous pouvez
appliquer les mêmes seuils de réussite/d'échec à toutes les longueurs
d'onde du test ou définir des seuils différents pour chaque longueur d'onde
de test disponible.
Ces seuils de réussite/d'échec s'appliquent aux résultats d'analyse de
toutes les traces nouvellement acquises ainsi que des traces actuelles avec
la longueur d'onde correspondante.
Si vous utilisez des fichiers contenant d'autres longueurs d'onde,
l'application ajoute automatiquement ces longueurs d'onde à la liste de
longueurs d'onde disponibles. Vous pouvez alors définir des seuils pour ces
nouvelles longueurs d'onde. Vous pouvez rétablir les valeurs par défaut de
tous les seuils.
Les seuils de perte, de réflectance et d'atténuation définis sont appliqués à
tous les événements pour lesquels de telles valeurs peuvent être obtenues.
Une fois les seuils définis, l'application peut effectuer les tests de
réussite/d'échec pour déterminer l'état des résultats (réussite ou échec).
Les valeurs supérieures aux seuils prédéfinis s’affichent en blanc sur un
fond rouge dans le tableau Événements. Les valeurs de longueur de la
section, de perte de la section et d'ORL de la section s'affichent dans le
tableau Sommaire.