EXFO FTB-700 for FTB-1 - Manuel (Page 65)

Test des fibres en mode Avancé
OTDR 55
Modification des seuils de succès/d’échec
Modification des seuils de succès/d’échec
Vous pouvez activer et définir des paramètres de seuil de succès/échec
pour vos tests.
Vous pouvez définir des seuils pour la perte d’épissure, la perte du
connecteur, la réflectance, l’atténuation de section de fibre, la perte
de section, la longueur de section et l’ORL de la section. Vous pouvez
appliquer les mêmes seuils de succès/échec à toute la longueur d’onde
du test ou séparément.
Vous pouvez définir différents seuils de succès/échec pour chaque
longueur d’onde de test disponible. Ces seuils de succès/échec
s’appliquent aux résultats d’analyse des traces nouvellement acquises
avec la longueur d’onde correspondante.
Par défaut, l’application propose des valeurs de seuil pour les longueurs
d’onde suivantes : 1310 nm, 1 383 nm, 1 390 nm, 1 410 nm, 1 490 nm,
1 550 nm, 1 625 nm et 1 650 nm. Toutefois, si vous utilisez des fichiers
contenant d’autres longueurs d’onde, l’application ajoute
automatiquement ces longueurs d’onde personnalisées à la liste de
longueurs d’onde disponibles. Vous pouvez alors définir des seuils
pour ces nouvelles longueurs d’onde. Vous pouvez rétablir les valeurs
par défaut de tous les seuils, sauf s’ils sont associés à des longueurs
d’onde personnalisées.
Les seuils de perte, de réflectance et d’atténuation définis sont appliqués à
tous les événements pour lesquels de telles valeurs peuvent être obtenues.
La définition de ces seuils vous permet d’ignorer les événements ayant des
valeurs basses connues ou de vous assurer que tous les événements sont
détectés (mêmes ceux ayant de très faibles valeurs).