HP Logiciel HP Insight Diagnostics - Manuel (Page 37)

4 Résolution des problèmes
Mémoire de résolution de problèmes
Le composant de test de mémoire peut réaliser les tests suivants :
•
Address test (Test de l'adresse) : ce test vérifie l'intégrité des bus d'adresse qui servent à
connecter les processeurs aux modules de mémoire. La vérification est réalisée en écrivant
des données dans toutes les adresses possibles présentant seulement 1 bit qui soit défini (1)
ou réinitialisé (0), présentant des bits de remplacement définis, présentant uniquement des
bits hauts ou des bits bas. Le but de ce test est de rechercher des lignes d'adresses qui sont
court-circuitées à la terre, à un signal haute tension, à d'autres ligne d'adresse ou flottantes
(déconnectées). À lui seul, ce test peut ne pas indiquer une panne matérielle.
•
Walk test (Test Walk) : ce test vérifie l'intégrité des bus de données qui servent à connecter
les processeurs aux modules de mémoire. La vérification est réalisée en écrivant des données
dans toutes les adresses possibles présentant seulement 1 bit qui soit défini (1) ou réinitialisé
(0), présentant des bits de remplacement définis, présentant uniquement des bits hauts ou des
bits bas. Le but de ce test est de rechercher des lignes de données qui sont court-circuitées à
la terre, à un signal haute-tension, à d'autres ligne d'adresse ou flottantes (déconnectées). À
lui seul, ce test peut ne pas indiquer une panne matérielle.
•
Noise test (Test Noise) : ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en écrivant remplaçant l'adresse
de test actuelle par son inverse. L'adresse de test actuelle alterne entre le début et la fin du
bloc de test actuel, en incrémentant ou en décrémentant l'adresse jusqu'à accéder au bloc
entier. Le but de ce test est de rechercher les problèmes de transitions des bus d'adresses et
de données lorsque ces lignes sont forcées en informations hautes et basses aussi rapidement
que possible. Si ce test échoue, cela indique une panne au niveau d'un module mémoire DIMM.
•
March test (Test March) : ce test est semblable à un véritable test Walk au niveau des bits et
est capable de détecter ce qui suit : défauts d'adresse, de blocage, de transition, de couplage
et de couplage lié. Ces types de défauts se produisent lorsque des cellules mémoires, au sein
d'un module de cellules de bits, ont des conséquences sur le fonctionnement de cellules
mémoires environnantes. Dans de nombreux cas, les types de test statiques ne détectent pas
ces pannes. Si ce test échoue, cela indique une panne au niveau d'un module mémoire DIMM.
•
Random address test (Test Random Address) : ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en
exécutant un motif aléatoire sur une plage de test donnée. Les adresses servant à stocker les
motifs sont sélectionnées de manière aléatoire et sont normalisées afin de loger dans le bloc
de test actuel. Le but de ce test est de détecter des problèmes intermittents au niveau de la
mémoire qui peuvent être dus à la température, à des vitesses d'horloge variables, à des
tensions variables, à la synchronisation du signal, à des défauts d'usine, à des taux
d'actualisation variables et à une décroissance. Ce test est également utile dans la détection
de défauts de mémoire qui ne seraient pas détectés par d'autres tests statiques. Si ce test
échoue, cela indique une panne au niveau d'un module mémoire DIMM.
En raison de la présence du système d'exploitation et des applications présents sur le système, il
n'est pas possible d'en tester toute la mémoire. Il est conseillé d'utiliser le paramètre par défaut
de chaque test. Les paramètres par défaut permettent de s'assurer que le maximum de la mémoire
disponible soit testé.
Pour tester précisément la mémoire, exécutez autant de boucles que possible pendant la durée
autorisée. Si le temps est un facteur important et qu'il n'est pas possible d'exécuter tous les tests
de mémoire, HP recommande d'exécuter les tests Random Address et Noise. Ces deux tests peuvent
détecter la plupart des erreurs.
Mémoire de résolution de problèmes 37