HP Intelligent Provisioning - Manuel (Page 35)

4 Résolution des problèmes
Mémoire de résolution de problèmes
Le composant de test de mémoire peut réaliser les tests suivants :
•
Address test–Ce test vérifie l'intégrité des bus d'adresse qui servent à connecter les processeurs
aux modules de mémoire. La vérification est réalisée en écrivant des données dans toutes les
adresses possibles présentant seulement 1 bit qui soit défini (1) ou réinitialisé (0), présentant
des bits de remplacement définis, présentant uniquement des bits hauts ou des bits bas. Le
but de ce test est de rechercher des lignes d'adresses qui sont court-circuitées à la terre, à un
signal haute-tension, à d'autres ligne d'adresse ou flottantes (déconnectées). À lui seul, ce test
peut ne pas indiquer une panne matérielle.
•
Walk test–Ce test vérifie l'intégrité des bus de données qui servent à connecter les processeurs
aux modules de mémoire. La vérification est réalisée en écrivant des données dans toutes les
adresses possibles présentant seulement 1 bit qui soit défini (1) ou réinitialisé (0), présentant
des bits de remplacement définis, présentant uniquement des bits hauts ou des bits bas. Le
but de ce test est de rechercher des lignes de données qui sont court-circuitées à la terre, à
un signal haute-tension, à d'autres ligne d'adresse ou flottantes (déconnectées). À lui seul, ce
test peut ne pas indiquer une panne matérielle.
•
Noise test–Ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en écrivant remplaçant l'adresse de test
actuelle par son inverse. L'adresse de test actuelle alterne entre le début et la fin du bloc de
test actuel, en incrémentant ou en décrémentant l'adresse jusqu'à accéder au bloc entier. Le
but de ce test est de rechercher les problèmes de transitions des bus d'adresses et de données
lorsque ces lignes sont forcées en informations hautes et basses aussi rapidement que possible.
Si ce test échoue, cela indique une panne au niveau d'un module mémoire DIMM.
•
March test–Ce test est semblable à un véritable test Walk au niveau des bits et est capable
de détecter ce qui suit : défauts d'adresse, de blocage, de transition, de couplage et de
couplage lié. Ces types de défauts se produisent lorsque des cellules mémoires, au sein d'un
module de cellules de bits, ont des conséquences sur le fonctionnement de cellules mémoires
environnantes. Dans de nombreux cas, les types de test statiques ne détectent pas ces pannes.
Si ce test échoue, cela indique une panne au niveau d'un module mémoire DIMM.
•
Random address test–Ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en exécutant un motif aléatoire
sur une plage de test donnée. Les adresses servant à stocker les motifs sont sélectionnées de
manière aléatoire et sont normalisées afin de loger dans le bloc de test actuel. Le but de ce
test est de détecter des problèmes intermittents au niveau de la mémoire qui peuvent être dus
à la température, à des vitesses d'horloge variables, à des tensions variables, à la
synchronisation du signal, à des défauts d'usine, à des taux d'actualisation variables et à une
décroissance. Ce test est également utile dans la détection de défauts de mémoire qui ne
seraient pas détectés par d'autres tests statiques. Si ce test échoue, cela indique une panne
au niveau d'un module mémoire DIMM.
En raison de la présence du système d'exploitation et des applications présents sur le système, il
n'est pas possible d'en tester toute la mémoire. Il est conseillé d'utiliser le paramètre par défaut
de chaque test. Les paramètres par défaut permettent de s'assurer que le maximum de la mémoire
disponible soit testé.
Pour tester précisément la mémoire, exécutez autant de boucles que possible pendant la durée
autorisée. Si le temps est un facteur important et qu'il n'est pas possible d'exécuter tous les tests
de mémoire, HP recommande d'exécuter les tests Random Address et Noise. Ces deux tests peuvent
détecter la plupart des erreurs.
Mémoire de résolution de problèmes 35